XRF(X射线荧光光谱仪)用X光照射待分析样品,样品中的元素内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁,在被激发的电子返回基态的时候,会放射出特征X光;不同的元素会放射出各自的特征X光,具有不同的能量或波长特性
仪器型号及参数
- 仪器型号：Thermal X-Ray on
- 仪器技术参数
- X射线管靶： 铑靶（Rh）,X射线管压： 60kv(Max), X射线管压： 150mA(Max)
- 检测元素范围：4Be～92U,检测浓度范围：10-6～100%, 最小分析微区：直径250μｍ
- 最大扫描速度：300º/min
- 测试元素范围： 11#元素～92#元素
送样要求及注意事项
- 固体粉末：均匀干燥，粒度小于100um（过80目），质量不少于100 mg；
- 块体、金属及薄膜样品：需加工出一平整的表面，尺寸约为20mm×10mm×2mm
测试实例
参考标准
- ISO17294-2:2003《水质-X射线荧光光谱法测定选定元素》
- ISO21068-2:2008《含碳化硅的原材料和耐火制品的化学分析-第2部分：XRF法》
- ISO13067:2012《固体回收燃料-XRF法测定元素组成》
- ASTMD4294-21《石油产品中硫含量的标准测试方法（XRF法）》
- ASTME1621-19《用XRF光谱法分析金属和合金的标准试验方法》
- ASTMC114-21《水泥化学分析的标准测试方法》
- ASTMF2617-18《电子级铝中杂质元素的XRF分析标准方法》
- GB/T14506.28-2010《硅酸盐岩石化学分析方法-XRF法测定主、次元素含量》
- GB/T3286.11-2014《石灰石及白云石化学分析方法-XRF法综合分析》
- GB/T20127.14-2006《钢铁及合金-XRF法测定14种元素含量》
