X射线衍射分析(XRD)是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。
仪器型号及参数
- 仪器型号：BRUKER D8 ADVANCE
仪器技术参数
- 小角衍射最小角可以达到0.4度，主要测量介孔材料和其他高分子复合材料。广角衍射：最低角度可以达到5度，可以精确接收到小于10度的衍射峰。
- 测量精度：角度重现性±0.0001°；测角仪半径≥200mm，测角圆直径可连续变
- 最小步长0.0001°；角度范围（2θ）：-110～168°；温度范围：室温～900℃；
- 最大输出：3KW；稳定性：±0.01%；管电压：20～60kV(1kV/1step)；管电流：10～60mA。
送样要求及注意事项
- 固体粉末：均匀干燥，粒度小于100um（过80目），质量不少于100 mg；
- 块体、金属及薄膜样品：需加工出一平整的表面，尺寸约为20mm×10mm×2mm
测试实例
参考标准
- ISO 21068 - 4:20243《含碳化硅、氮化硅、氧氮化硅和赛隆的原材料和耐火制品的化学分析第 4 部分 XRD 法》
- ISO 23071:20212《耐火材料产品 XRD 法测定含碳耐火材料中还原物种》
- GB/T 36655 – 20182《电子封装用球形二氧化硅微粉中 α 态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD 法》
- GB/T 40407 – 20214《硅酸盐水泥熟料矿相 X 射线衍射分析方法》
- GB/T 36923 – 20184《珍珠粉鉴别方法 X 射线衍射分析法》
