电子显微镜

EDS测试服务_能谱分析(点/线/面扫描)_元素成分半定量分析 - 剂拓科技

剂拓科技提供高效率EDS能谱测试服务。配合高分辨率SEM/TEM,实现微米及纳米尺度的元素定性与半定量分析。支持点分析、线扫描及元素面分布(Mapping)。广泛应用于金属、半导体、陶瓷及失效分析领域。

能谱仪(EDS)测试原理

各种元素具有自己的X射线特征波长,特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E,能谱仪就是利用不同元素X射线光子特征能量不同这一 特点来进行成分分析的。

仪器型号与技术参数

  • 仪器型号:ZEISS Merlin Compact
  • 技术参数
  • 二次电子分辨率:1.4nm (1 kV,减速模式)
  • 放大倍率: x 20~ x 800,000
  • 电子枪: 冷场发射电子源
  • 元素范围:铍 (Be 4) - 铀 (U 92)
  • 分析模式:点、线、面 (Mapping).偏析分析、多相识别、涂层评价

送样要求及注意事项

  • 粉状样品50-100mg之间
  • 块状样品不能大于5mm宽,高度小于5mm.
  • 样品有磁性一定要告知。

测试实例

EDS测试.jpg

参考标准

  • ISO 15632(2021) Microbeam analysis — Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers (EDS)
  • ISO 22309(2011) Microbeam analysis — Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or above*
  • ASTM E1508-12(2019) Standard Guide for Quantitative Analysis by Energy-Dispersive Spectroscopy
  • ASTM E2809-22 Standard Guide for Using Scanning Electron Microscopy/X-ray Spectrometry in Forensic Paint Examinations
  • GB/T 17359-2023 微束分析 能谱法定量分析通则